納米粒度及Zeta電位分析儀的原理介紹

　　納米粒度及Zeta電位分析儀集成了動態(tài)光散DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
 

　　納米粒度及Zeta電位分析儀的原理：
 

　　當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時,由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移,導致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化,該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關,而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小,顆粒大布朗運動速度低,反之顆粒小布朗運動速度高,使用光子探測器在固定的角度采集散射光,通過相關器進行自相關運算得到相關函數(shù),再經(jīng)過數(shù)學反演獲得顆粒粒徑信息。
 

　　納米粒度及Zeta電位分析儀的測量方法：
 

　　1.電泳法。當電場應用于電解質時，懸浮在電解質中的帶電粒子被吸引到相反電荷的電極上，作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運動.當這兩種對抗達到平衡時，粒子以恒定的速度移動，我們通常稱之為電泳遷移率。
 

　　2.流動電位法。流動電位是指當電解質溶液在帶電荷的絕緣表面流動時，表面的雙層自由帶電荷顆粒將沿溶液流動方向移動。這些帶電荷顆粒的運動導致下游電荷積累，上下游之間的電位差是流動電位。
 

　　3.超聲電聲法。在膠體溶液兩側施加電壓，帶點粒子運動會產(chǎn)生聲波，測量聲波，計算粒子的動態(tài)遷移率，然后計算Zeta電位。