測量高濃度納米顆粒粒度的利器——后向散射技術

動態光散射法是建立在入射光只發生單次散射基礎之上的，要求所測試的樣品濃度較稀，以避免發生多次散射，因此該方法不能直接用來測量較濃的樣品，必須經過稀釋以后才能進行測量。樣品稀釋后，對于某些靜態參數的測量是沒有影響的，而對于動態參數和某些靜態參數，則會隨濃度變化而產生巨大差異。正是對樣品濃度的限制，阻礙了動態光散射法在食品、油漆涂料、凝膠等高濃度溶液中的應用。通常可根據光學厚度來表征多次散射效應的強弱，光學厚度又正比于光程，通過光路的設計使光程最小化，就能最大限度的減少多次散射的影響。

澳譜特科技（上海）有限公司的開發團隊堅持開拓與創新，通過優化設計，在919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀中集成了后向散射光路，如圖1所示，通過前后調節透鏡位置，可使散射體位于樣品池邊緣P1與樣品池中心P5之間的任意位置。由于后向散射光不需要穿過整個樣品，從而減小了散射光程，減弱了多次散射光，進而可以檢測較高濃度樣品的顆粒粒度信息。

由于灰塵粒子的散射光集中在前向散射區域，所以采用后向散射方法還可以有效降低灰塵的影響。另外，后向散射方法所觀察到的樣品散射體積較大，因此能夠采集到更多的散射光，使得測量儀器也更加靈敏。

圖1 后向散射光路

取高濃度聚苯乙烯乳膠球標準物質（標稱粒徑110nm，固含量6.95%），采用二分法制備1~7號樣品，如圖2所示，樣品濃度等信息見表1

圖2 不同濃度的樣品

表1  待測樣品濃度與吸光度測量值

對1~7號樣品分別采用側向90度散射法，和后向散射法進行測量，實驗結果如圖3、圖4，圖中藍色點為側向測量結果，紅色點為后向測量結果由實驗數據可知：對于稀溶液，兩種方法均可以給出準確的測量結果；對于濃溶液，由于多次散射的影響，側向測量時誤差非常大，結果不可接受；而后向測量由于光程短，降低了多次散射的影響，測量的結果仍然準確可靠。

澳譜特科技會繼續秉承“品質源于專業，創新未來"的理念，繼續加大研發投入，不斷提升919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀的品質，滿足客戶的需求。