9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測(cè)量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量分子量，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，是測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。

Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測(cè)量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細(xì)小，其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)活性等方面表現(xiàn)出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數(shù)，準(zhǔn)確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關(guān)鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩(wěn)定性的關(guān)鍵參數(shù)，Zeta電位越高，膠體系統(tǒng)就越穩(wěn)定，反之，Zeta電位越