顆粒的粒度與分布

       粒度是顆粒占據空間范圍大小的線性尺度，表面光滑的球形顆粒的直徑就是其粒度。粒度越小，顆粒的微細程度越大。實際顆粒的外形通常是非球形或表面不光滑的，當一個顆粒的某一物理特性與同質球形顆粒相同或相近時，通常用該球形顆粒的直徑來代表這個實際顆粒的直徑，稱之為等效粒徑。根據不同的測量方法，有不同的等效粒徑：  
       (1)等效體積粒徑，即與所測顆粒具有相同體積的同質球形顆粒的直徑。  
       (2)等效沉速粒徑，即與所測顆粒具有相同沉降速度的同質球形顆粒的直徑。重力沉降法、離心沉降法所測的粒徑為等效沉速粒徑，也         稱斯托克斯(Stokes)徑。  
       (3)等效電阻粒徑，即在一定條件下與所測顆粒具有相同電阻的同質球形顆粒的直徑。庫爾特法所測的粒徑就是等效電阻粒徑。  
       (4)等效投影面積粒徑，即與所測顆粒具有相同的投影面積的球形顆粒的直徑。圖像法所測的粒徑即為等效投影面積粒徑。  
       一些粒徑的定義與測量原理有關，因而不同測量方法得到的粒徑可能是不同的，在粒徑比較時需要考慮粒徑測量所采用的測量方法。  
       粒度分布是指用特定的儀器和方法反映出顆粒樣品中不同粒徑顆粒占顆粒總量的百分數(shù)。有區(qū)間分布和累計分布兩種形式。區(qū)間分布又稱為微分分布或頻率分布，它表示一系列粒徑區(qū)間中顆粒的百分含量。累計分布也叫積分分布，它表示小于或大于某粒徑顆粒的百分含量。進行粒度分析時將顆粒劃分成若干個適當窄的粒度范圍。數(shù)據一般以表格或圖形給出，也可以數(shù)學公式描述。粒度數(shù)據的圖示法通常是以橫坐標(x軸)列出顆粒粒度，以縱坐標(y軸)列出測得的基準量。表示數(shù)量有兩種方法：一種是列出每一粒級中的量(絕對量，分數(shù)，或百分數(shù))，另一種方法是列出高于或低于某一粒度的累計量(分數(shù)或百分數(shù))。